DRK-W Serie Laser Partikelgréisst Analysator

Kuerz Beschreiwung:

Produit Detailer

Produit Tags

Déi héich Qualitéit vum DRK-W Serie Laser Partikelgréisst Analysator an déi breet Palette vun getestene Proben maachen et vill a ville Beräicher wéi Labo experimentell Fuerschung an industriell Produktiounsqualitéitskontroll benotzt. Zum Beispill: Materialien, Chemikalien, Medikamenter, Feinkeramik, Baumaterial, Petrol, elektresch Kraaft, Metallurgie, Liewensmëttel, Kosmetik, Polymere, Faarwen, Beschichtungen, Kueleschwarz, Kaolin, Oxiden, Karbonaten, Metallpulver, refractaire Materialien, Zousatzstoffer, asw. Benotzt Partikelmaterial als Produktiouns Rohmaterial, Produkter, Zwëscheprodukter, asw.

Mat dem wuessende Fortschrëtt an der Entwécklung vu Wëssenschaft an Technologie sinn ëmmer méi fein Partikelen a ville Secteuren vun der nationaler Wirtschaft opgetaucht, wéi Energie, Kraaft, Maschinnen, Medizin, chemesch Industrie, Liichtindustrie, Metallurgie, Baumaterial an aner Industrien. Technesch Problemer mussen nach geléist ginn, an d'Messung vun der Partikelgréisst ass ee vun de fundamentalsten a wichtegsten Aspekter. A ville Fäll beaflosst d'Gréisst vun der Partikelgréisst net nëmmen direkt d'Performance an d'Qualitéit vum Produkt, awer huet och eng bedeitend Relatioun mat der Optimiséierung vum Prozess, der Reduktioun vum Energieverbrauch an der Reduktioun vun der Ëmweltverschmotzung. An de leschte Joeren hu verschidde nei Partikelmaterialien enk mat High-Tech, nationaler Verteidegungsindustrie, Militärwëssenschaft, asw., besonnesch d'Entstoe an d'Benotzung vun ultrafine Nanopartikelen, nei a méi héich Ufuerderunge fir d'Messung vun der Partikelgréisst virgestallt. Net nëmme erfuerdert séier an automatiséiert Datenveraarbechtung, awer erfuerdert och zouverlässeg a méi räich Donnéeën a méi nëtzlech Informatioun fir d'Bedierfnesser vun der wëssenschaftlecher Fuerschung an der industrieller Qualitéitskontrollapplikatioune gerecht ze ginn. TS-W Serie Laser Partikelgréisst Analysator ass déi lescht Generatioun vu Laser Partikelgréisst Analysator suergfälteg entwéckelt fir déi uewe genannten nei Ufuerderunge vun de Benotzer ze treffen. D'Instrument integréiert d'Applikatioun vun fortgeschratt Laser Technologie, semiconductor Technologie, optoelektronesch Technologie, microelectronic Technologie an Computer Technologie, an integréiert Liichtjoer, Maschinn, Elektrizitéit, a Computer. Déi aussergewéinlech Virdeeler vun der Partikelgréisstmiesstechnologie baséiert op der Liichtstreettheorie gi graduell Amplaz vun e puer traditionelle konventionelle Miessmethoden, wäert et sécher eng nei Generatioun vu Partikelgréisst Messinstrumenter ginn. An et spillt eng ëmmer méi wichteg Roll an der Analyse vun der Partikelgréisstverdeelung am Beräich vun der wëssenschaftlecher Fuerschung an der industrieller Qualitéitskontroll.
Déi héich Qualitéit vum DRK-W Serie Laser Partikelgréisst Analysator an déi breet Palette vun getestene Proben maachen et vill a ville Beräicher wéi Labo experimentell Fuerschung an industriell Produktiounsqualitéitskontroll benotzt. Zum Beispill: Materialien, Chemikalien, Medikamenter, Feinkeramik, Baumaterial, Petrol, elektresch Kraaft, Metallurgie, Liewensmëttel, Kosmetik, Polymere, Faarwen, Beschichtungen, Kueleschwarz, Kaolin, Oxiden, Karbonaten, Metallpulver, refractaire Materialien, Zousatzstoffer, asw. Benotzt Partikelen als Rohmaterial, Produkter, Zwëscheprodukter, asw.

Technesch Charakteristiken:
1. Eenzegaarteg semiconductor Frigoen thermostatically kontrolléiert gréng staark-Staat Laser als Liichtjoer Quell, mat kuerz Wellelängt, kleng Gréisst, stabil Aarbecht a laang Liewen;
2. Eenzegaarteg entworf grousst Duerchmiesser Liichtziel fir e grousst Messbereich ze garantéieren, kee Besoin fir d'Objektiv z'änneren oder d'Probezelle bannent der ganzer Messbereich vun 0,1-1000 Mikron ze bewegen;
3. Sammelen d'Resultater vun Joer vun Fuerschung, déi perfekt Applikatioun vun Michaelis Theorie;
4. Eenzegaarteg Inversioun Algorithmus fir d'Genauegkeet vun der Partikelmiessung ze garantéieren;
5. USB Interface, Instrument a Computer Integratioun, embedded 10,8-Zoll Industrie-Schouljoer Computer, Keyboard, Maus, U Scheif kann verbonne ginn
6. Circulating Prouf Pool oder fix Prouf Pool kann während Messung ausgewielt ginn, an déi zwee kann ersat ginn wéi néideg;
7. Modular Design vun der Probezelle, verschidde Testmodi kënnen duerch Ännere vum Modul realiséiert ginn; Déi zirkuléierend Probezell huet en agebaute Ultraschall-Dispersiounsapparat, deen effektiv agglomeréiert Partikelen dispergéiere kann
8. D'Proufmiessung kann voll automatiséiert ginn. Zousätzlech fir Proben ze addéieren, soulaang wéi d'destilléiert Waasser-Inlet-Päif an d'Drain-Päif verbonne sinn, kënnen d'Waasserinlet, d'Messung, d'Drainage, d'Botzen an d'Aktivatioun vum Ultraschall-Dispersiounsapparat voll automatiséiert ginn, a manuell Miessmenüe ginn och zur Verfügung gestallt. ;
9. D'Software ass personaliséiert, bitt vill Funktiounen wéi Miesswizard, wat bequem ass fir d'Benotzer ze bedreiwen;
10. D'Miessresultaterausgabdaten sinn räich, an der Datebank gespäichert a kënne mat all Parameteren genannt ginn an analyséiert ginn, wéi den Numm vum Bedreiwer, Proufnumm, Datum, Zäit, etc., fir Datenaustausch mat anere Software ze realiséieren;
11. D'Instrument ass schéin am Erscheinungsbild, kleng a Gréisst a Liicht am Gewiicht;
12. D'Messgenauegkeet ass héich, d'Wiederholbarkeet ass gutt, an d'Messzäit ass kuerz;
13. D'Software bitt de Brechungsindex vu ville Substanzen fir d'Benotzer ze wielen fir d'Ufuerderunge vum Benotzer ze treffen fir de Brechungsindex vum gemoossene Partikel ze fannen;
14. Bedenkt d'Vertraulechkeetsufuerderunge vun den Testresultater, nëmmen autoriséiert Betreiber kënnen déi entspriechend Datebank anzeginn fir Daten a Prozess ze liesen;
15. Dëst Instrument entsprécht awer ass net limitéiert op déi folgend Normen:
ISO 13320-2009 G/BT 19077.1-2008 Partikelgréisst Analyse Laser Diffraktiounsmethod

Technesch Parameter:

Modell	DRK-W1	DRK-W2	DRK-W3	DRK-W4
Theoretesch Basis	Mie Streuung Theorie
Partikelgréisst Miessbereich	0,1-200 um	0,1-400 um	0,1-600 um	0,1-1000 um
Liicht Quell	Semiconductor Kältekonstant Temperatur Kontroll Rot Liicht staark Laser Liichtjoer Quell, Wellelängt 635nm
Widderhuelbarkeet Feeler	<1% (Standard D50 Ofwäichung)
Miessfehler	<1% (Standard D50 Ofwäichung, benotzt national Standard Partikelinspektioun)
Detektor	32 oder 48 Kanal Silicium Photodiode
Prouf Zell	Fixed Probe Pool, zirkuléierend Probepool (built-in Ultrasonic Dispersion Apparat)
Mooss Analyse Zäit	Manner wéi 1 Minutt ënner normalen Konditiounen (vum Ufank vun der Messung bis zum Display vun den Analyseresultater)
Output Inhalt	Volumen- a Quantitéitdifferentialverdeelung a kumulative Verdeelungstabellen a Grafike; verschidde statistesch Moyenne Duerchmiesser; Bedreiwer Informatiounen; experimentell Probeinformatioun, Dispersiounsmediuminformatioun, etc.
Display Method	Built-in 10,8-Zoll Industriegrad Computer, dee mat Tastatur, Maus, U Disk verbonne ka ginn
Computer System	WIN 10 System, 30GB Festplack Kapazitéit, 2GB System Erënnerung
Stroumversuergung	220 V, 50 Hz

Aarbechtskonditiounen:
1. Innentemperatur: 15℃-35℃
2. Relativ Temperatur: net méi wéi 85% (keng Kondensatioun)
3. Et ass recommandéiert AC Energieversuergung 1KV ouni staark Magnéitfeld Stéierungen ze benotzen.
4. Duerch d'Messung am Mikronberäich soll d'Instrument op eng robust, zouverléisseg, vibrationfrei Workbench plazéiert ginn, an d'Messung soll ënner nidderegen Staubbedéngungen gemaach ginn.
5. D'Instrument soll net op Plazen plazéiert ginn, déi direkt Sonneliicht, staarkem Wand oder grouss Temperaturännerungen ausgesat sinn.
6. D'Ausrüstung muss gegrënnt ginn fir Sécherheet an héich Genauegkeet ze garantéieren.
7. D'Zëmmer soll propper, staub-proof, an net-corrosive ginn.